試驗設(shè)備的校準，有些技術(shù)指標(biāo)，各個版本的國家標(biāo)準并不統(tǒng)一，這就造成了一些麻煩。比如溫度偏差這個指標(biāo)，JJF1101-2003《環(huán)境試驗設(shè)備溫度、濕度校準規(guī)范》和GB/T 5170.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備》，這兩個標(biāo)準里面的規(guī)定就是天差地別。下面說說溫度偏差，濕度偏差也是同樣的情況，就不多說了：
二、定義：
1、JJF1101-2003《環(huán)境試驗設(shè)備溫度、濕度校準規(guī)范》：
環(huán)境試驗設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，顯示溫度平均值與工作空間中心點實測溫度平均值的差值。（注：這里的顯示溫度平均值指設(shè)備控溫儀表的顯示溫度平均值）
2、GB/T 5170.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備》：
試驗箱（室）穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測量點在規(guī)定時間內(nèi)實測zui高溫度和zui低溫度與標(biāo)稱溫度的上下偏差。
三、區(qū)別要點：
1、JJF1101-2003《環(huán)境試驗設(shè)備溫度、濕度校準規(guī)范》：基準點是工作空間中心點實測溫度平均值，考核對象是設(shè)備控溫儀表顯示溫度平均值，考核其與基準點的偏離程度。顯然，這跟溫度均勻度，沒有半點關(guān)系。
這和GB/T 5170.2-2008里面的溫度指示誤差指標(biāo)類似，但基準點有區(qū)別，GB/T 5170.2-2008里面規(guī)定的基準點是設(shè)備工作空間全部測量點的溫度測量平均值。
2、GB/T 5170.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備》：基準點是標(biāo)稱溫度（也就是你要做的試驗溫度，一般情況下等效于設(shè)定值），考核對象是工作空間各個測量點（比如小設(shè)備就是9個測試點），考核其與基準點的偏離程度。從中可以看出，這已經(jīng)包含了溫度均勻度，如果均勻度不好，那溫度偏差肯定達不到。
綜合來看，執(zhí)行JJF1101-2003的話，溫度偏差指標(biāo)很容易實現(xiàn)，因為它只考核設(shè)備控溫儀表顯示溫度平均值；相比較而言，執(zhí)行GB/T 5170.2-2008，溫度偏差指標(biāo)的實現(xiàn)就要困難一些，因為它要考核工作空間的各個測量點。
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